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除尘设备前如何测定尘粒的粒径分布?

除尘设备前如何测定尘粒的粒径分布?

什么是粒径分布?

所谓粒径分布,就是粉体样品中各种大小的颗粒占颗粒总数 的比例。

表2尘粒粒径的主要测定方法

方法与仪器

测定范围

分散度计量基础

最小样品量

光学显微镜

0^ 5 〜100

个数或面积分布

微量

电子显微镜

0’ 001〜匕5

个数或面积分布

微量

散射光尘粒分析仪

0’ 3〜40

个数分布

微量

库尔特尘粒分析仪

0^ 6〜75

个数分布折算成质量分布

少量

筛分法

〉38

质量分布

50羟

移液管沉降法

1〜50

质量分布

6吕

沉降天平法

1〜50

质量分布

2运

光电沉降法

1〜50

质量分布

少量

巴柯离心尘粒分析仪

2〜50

质量分布

88

惯性冲击式尘粒分析仪

5 〜20

质量分布

少蛩

除尘设备

前如何测定尘粒的粒径分布?

以下介绍几种常用的粒径分布测定方法。

显微镜法

常在放大率450〜600倍的显微镜下对尘粒进行逐个测量, 从而取得定向径、定向等面积径、投影面积径等(见图2氕在 测量时整个视野范围内的尘粒数不得超过50〜70个,避免粒子 间的重叠,每次最少测量200个以上。光学显微镜可以测定微米

级的粒径,电子显微镜可以测定纳米级的粒径。

匕)投影面积径 图2尘粒的投影粒径

⑵筛分法

取25〜2008

尘样〔一般取1008

作为标准〕,通过一套筛子 进行筛分,按不同筛孔上的残留量计算出不同粒径范围的颗粒质从占总质量的百分数。我国采用泰勒标准筛,最小孔目 啼分法可用手工和振筛机筛分,任一种筛分都要求每分钟通过每 以筛子的尘量不超过0.058或筛上尘量〔未通过筛孔,留在筛上 的粉尘量)的0.1^。

细孔通过法

常用库尔特计数器测量,它使尘粒在电解介质中 通过孔口,由于电阻的变化而引起电压的波动,电压波动值越大,则尘粒的体积越大。此法测得的是等体积径,测得的范围为0.6〜 50(^1!!。此法需要的试样少分析快,只需几十秒钟。

(豹沉降法

制定此法的依据是不同大小颗粒在液体介质中的沉降速度各 不相同这一原理,它是气体除尘试验研究中应用最广泛的方法。

尘粒在液体中做等速自然沉降时所达到的最大速度可用斯托 克斯公式表示,所测粒径为斯托克斯径⑷。由于直接测各种尘粒的沉降速度比较困难,因此用尘粒的沉降高度丑(扭)和沉 降时间来计算沉降速度,即

V ("口 一"轵

式中,0为气体的动力黏度,^ 5; ^为颗粒的密度, 4为气体的密度,匕/瓜3

; &为重力加速度,通常取 9’ 811112

乂3。

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